大阪市立大学 機器一覧

大阪市立大学 機器一覧

ESR

<装置名>
XバンドCW・MRI-ESR装置

<機器名>
ブルカー・バイオスピン Elexsys E500

<仕様・特徴>
XバンドESRイメージングユニットを装備
液体窒素温度から200 ℃までの温度制御装置を装備

<利用料金設定(学外)>

本人測定

2,400円 / 1時間

※別途、原則初回は技術指導料(3,645円 / 1時間)がかかります。

依頼分析

5,300円 / 1時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
理学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(理学部棟)

ESR

<装置名>
XバンドCW・パルスESR装置

<機器名>
ブルカー・バイオスピン ESP380E

<仕様・特徴>
液体ヘリウム温度から室温までの温度制御装置を装備
任意波形発生器 (AWG) による最適化パルスを用いたパルスESR測定が可能

<利用料金設定(学外)>

本人測定

1,500円 / 1時間

※別途、原則初回は技術指導料(3,645円 / 1時間)がかかります。

依頼分析

4,400円 / 1時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
理学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(理学部棟)

ESR

<装置名>
XバンドCW-ESR・ENDOR装置

<機器名>
ブルカー・バイオスピン ESP300/350

<仕様・特徴>
液体ヘリウム温度から室温までの温度制御装置を装備
溶液および固体試料のCW-ENDOR測定ユニット装備

<利用料金設定(学外)>

本人測定

1,500円 / 1時間

※別途、原則初回は技術指導料(3,645円 / 1時間)がかかります。

依頼分析

4,400円 / 1時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
理学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(理学部棟)

ESR

<装置名>
XバンドCW-ESR装置

<機器名>
日本電子 JES-FE2XG

<仕様・特徴>
液体窒素温度から200 ℃までの温度制御装置を装備
試料面積が通常の試料管よりも大きい基板上に形成した膜を非破壊で測定できるキャビティを装備(室温のみ)

<利用料金設定(学外)>

本人測定

1,500円 / 1時間

※別途、原則初回は技術指導料(3,645円 / 1時間)がかかります。

依頼分析

4,400円 / 1時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
理学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(理学部棟)

化学状態分析

<装置名>
X線光電子分光装置

<機器名>
島津製作所:XPS/ESCA-3400

<仕様・特徴>
金属、セラミックス、高分子材料など、さまざまな試料に対応可能です。測定操作は極めて簡単で、高度の自動分析機能とデータ処理が可能です。

【測定例1:材料の品質管理、製造管理のために】
金属材料 ガラス・セラミックス 電子 半導体材料 高分子材料 触媒

【測定例2:材用、部品、製品の不良解析や研究のために】
触媒の失活 すべり性の低下 材料表面の変色 高分子フィルムの接着性の低下

<利用料金設定(学外)>

本人測定

5,700円/利用時間

※別途、技術指導料:2,600円/指導時間

依頼分析

8,200円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)

微量XRF分析

<装置名>
全反射蛍光X線分析装置

<機器名>
株式会社リガク:ナノハンター

<仕様・特徴>
マルチビームシステムによりAl~Uを高感度に検出します。試料を置くだけで簡単に非破壊分析が可能です。
また、測定の準備も容易で、液体試料の場合、きわめて少ない液量でppbレベルの測定が可能です。

【測定例1:蒸着膜中不純物の検出】
全反射蛍光X線分析法では、照射X線は試料表面から数nm程度の深さまでしか侵入しません。この現象を利用して、極表面のみの高感度分析を行うことが可能です。

【測定例2:固体表面上の付着形態分析】
蛍光X線強度の照射角度依存性を測定することで、試料表面上の元素付着形態を判別することができます。

【測定例3:膜状試料の深さ方向分析】
照射X線の角度を変えることにより、構成元素の深さの濃度変化をみることができます。

<利用料金設定(学外)>

本人測定

4,800円/利用時間

※別途、技術指導料:2,600円/指導時間

依頼分析

7,300円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)

微小部XRF分析

<装置名>
真空仕様共焦点 3次元蛍光X線分析装置

<機器名>
共焦点微小部蛍光X線分析装置 (真空仕様)

<仕様・特徴>
試料表面近傍の任意の深さにおける元素分析が可能です。また、深さを 選択した2次元元素分布像の取得も可能です。その他、深さ方向の情報 を有する元素分布像の取得についても可能です。

▶測定例1:元素分布像の取得
毛髪や食品など様々な形態の試料内部の元素分布を取得することが可能 です。

▶測定例2:層構造解析
塗膜を有する自動車用めっき鋼板などの層構造を持つ試料に対して深さ元 素分布を非破壊的に取得できます。

<利用料金設定(学外)>

依頼分析

14,200円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)

微小部XRF分析

<装置名>
大気仕様共焦点3次元蛍光X線分析装置

<機器名>
共焦点微小部蛍光X線分析装置(大気仕様)

<仕様・特徴>
試料表面近傍の任意の深さにおける元素分析が可能です。また、深さを選択した2次元元素分布像の取得も可能です。その他、深さ方向の情報を有する元素分布像の取得についても可能です。特に、水溶液セルを用いた水溶液中でのその場観察が可能です。

【測定例】
測定例1:その場分析
水溶液中に置かれた金属試料の腐食挙動を各元素の分布変化として観察できます。

測定例2:元素分布解析
塗膜、皮革や木材などの複雑な構造を持つ試料の断面元素マッピングを取得できます。

<利用料金設定(学外)>

依頼分析

12,700円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)

微小部XRF分析

<装置名>
大型試料対応共焦点3次元蛍光X線分析装置

<機器名>
共焦点微小部蛍光X線分析装置(大型試料対応)

<仕様・特徴>
試料表面近傍の任意の深さにおける元素分析が可能です。また、深さを選択した2次元元素分布像の取得も可能です。その他、深さ方向の情報を有する元素分布像の取得についても可能です。特に、大型試料の測定が可能です。

【測定例】
測定例1:深さイメージング
絵画などの大きな試料に対して、絵具(顔料)に含まれる元素に注目した深さイメージングを非破壊的に取得できます。

測定例2:大型試料分析
電子基板の各電子部品に含まれる微量元素を非破壊的に直接測定できます。

<利用料金設定(学外)>

依頼分析

8,600円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)

微小部XRF分析

<装置名>
X線分析顕微鏡

<機器名>
堀場製作所:XGT-2700

<仕様・特徴>
元素マッピング像と、透過X線像が同時に得られます。
また、試料の前処理なしに、大気中で非破壊・非汚染の測定が可能です。特に、試料を選ばず、生体などでも分析可能です。Na(ナトリウム)からU(ウラン)まで31元素を同時マッピングや、100 mm×100 mm のサンプルをそのまま分析可能です。その他、φ 10 µm / φ 100 µm の点分析、微小領域から広領域までの面分析に対応可能です。

【測定例1:研究開発】
材料開発、バイオ試料解析

【測定例2:品質管理 】
異物分析、不良解析

<利用料金設定(学外)>

本人測定

3,500円/利用時間

※別途、技術指導料:2,600円/指導時間

依頼分析

6,000円/利用時間

学術指導

共同・受託研究

※費用は双方で協議の上、決定。

<管理部局>
工学研究科

<設置場所>
杉本キャンパス(工学部棟)